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ENJ2005-B半導(dǎo)體分立器件測(cè)試系統(tǒng)，支持電流階梯升級(jí)至1250A。采用脈沖測(cè)試法，脈沖寬度為美軍標(biāo)規(guī)定的300uS。在PC窗口提示下輸 入被測(cè)器件的測(cè)試條件點(diǎn)擊即可完成測(cè)試任務(wù)。被測(cè)器件引腳接觸自動(dòng)判斷功能。系統(tǒng)采用帶有開爾文感應(yīng)結(jié)構(gòu)的測(cè)試工裝，自動(dòng)補(bǔ)償由于系統(tǒng)內(nèi)部及測(cè)試電 纜長(zhǎng)度引起的壓降，保證測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確可靠。

EN-3020C IGBT靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)針對(duì) IGBT的靜態(tài)參數(shù)而研發(fā)的智能測(cè)試系統(tǒng)，功率3500V、1500A（可擴(kuò)展），自動(dòng)化程度高，按照操作人員設(shè)定的程序自動(dòng)工作。計(jì)算機(jī)記錄測(cè)試結(jié) 果，測(cè)試結(jié)果可轉(zhuǎn)化為文本或EXCEL 格式存儲(chǔ)，工作時(shí)序、開關(guān)的動(dòng)作狀態(tài)，數(shù)據(jù)采集等均由計(jì)算機(jī)和PLC共同完成。 測(cè)試方法靈活，可測(cè)試單個(gè)單元和多單元的模塊，系統(tǒng)安全穩(wěn)定，人機(jī)界面友好，操作簡(jiǎn)便。

EN-6500A IGBT動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)，是針對(duì)IGBT 器件的開關(guān)特性及內(nèi)部續(xù)流二極管的反向恢復(fù)特性而推出的全自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。適用于電流小于4500A，集電極電壓 小于6000V，續(xù)流 二極管正向電流小于4500A的IGBT 器件的特性參數(shù)測(cè)試。

ENJ2010 IGBT便攜式半導(dǎo)體靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀，是一種全新的功率半導(dǎo)體器件參數(shù)測(cè)試儀器，可用于額定電流在2-100A的IGBT和MOS管主要靜態(tài)參數(shù)的測(cè)試。儀器與配套電腦連接使用，通過友好人機(jī)界面操作，便于各 測(cè)試參數(shù)的組合、數(shù)據(jù)結(jié)果以表格形式呈現(xiàn)，具有使用便捷、測(cè)試精度高等優(yōu)點(diǎn)，適合于各測(cè)試器件使用現(xiàn)場(chǎng)及產(chǎn)線維護(hù)場(chǎng)合使用。

ENI1220 IPM功率模塊測(cè)試系統(tǒng)基于DSP和FPGA技術(shù)，通過SPWM波形控制信號(hào)源，實(shí)時(shí)檢測(cè)IPM模塊的開關(guān)時(shí)間特性（開通/關(guān)斷時(shí)間）、電壓電流諧波特性，并判斷器件的故障保護(hù)功能（如過壓、過流、過熱等）。 ?

高壓電器耐久測(cè)試系統(tǒng)（簡(jiǎn)稱耐久）為NGI針對(duì)汽車、軌道交通、家用電器、航空器、船舶、醫(yī)療儀器等相關(guān)產(chǎn)品中電氣回路耐久可靠性測(cè)試而專門研發(fā)的測(cè)試系統(tǒng)。

DC-DC轉(zhuǎn)換器測(cè)試系統(tǒng)主要完成DC-DC轉(zhuǎn)換器常溫測(cè)試、試驗(yàn)測(cè)試等相關(guān)工作，包括產(chǎn)品的輸入/輸出項(xiàng)測(cè)試、保護(hù)項(xiàng)測(cè)試、時(shí)序測(cè)試、通訊測(cè)試等各類測(cè)試項(xiàng)。此測(cè)試系統(tǒng)可幫助用戶實(shí)現(xiàn)DC-DC轉(zhuǎn)換器輸入/輸出電壓、 紋波、功率、源/負(fù)載效應(yīng)、耐壓等各類測(cè)試項(xiàng)參數(shù)計(jì)算及測(cè)試報(bào)表的自動(dòng)生成。

多通道電源老化測(cè)試系統(tǒng)基于NGI電子負(fù)載為搭建，可以同時(shí)老化多通道電源，每個(gè)通道相互獨(dú)立，通道之間互不影響，每通道均支持CC、CV、CP、CR模式，上升、下降斜率可設(shè)，提供可編程序列測(cè)試功能，多至100組序列，每個(gè)序列高達(dá)50步。具備用戶自定義測(cè)試計(jì)劃，實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)顯示，歷史數(shù)據(jù)查詢，良品率分析等功能。是各種規(guī)格電源老化的選擇。